Innovationen mit HPE


// Strategien für die digitale Welt
- Anzeige -

Warranty Analytics, Early Defect Detection: Ad-hoc-Reaktion bei Qualitätsproblemen

Arian van Huelsen: "Wir können in Echtzeit eine Häufung von Themen identifizieren und weiterverarbeiten."

Arian van Huelsen: "Wir können in Echtzeit eine Häufung von Themen identifizieren und weiterverarbeiten."

Foto: HP

Zurück zum Artikel: Warranty Analytics, Early Defect Detection: Ad-hoc-Reaktion bei Qualitätsproblemen